| 短波红外InGaAs焦平面探测器的技术进展 |
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| 引用本文： | 刘军华,高新江,周勋. 短波红外InGaAs焦平面探测器的技术进展[J]. 半导体光电, 2015, 36(5): 683-688 |
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| 作者姓名： | 刘军华 高新江 周勋 |
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| 作者单位： | 中国电子科技集团公司,北京,100846;重庆光电技术研究所,重庆,400060 |
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| 摘 要： | InGaAs焦平面阵列探测器是短波红外(SWIR)窗口获取目标信息的主流成像器件,具有灵敏度高、可室温工作的典型技术特征,作为一类重要的军民两用技术,在军事装备、安全防范、工业检测和空天遥感等领域需求明确,应用前景广阔.文章简述了短波红外InGaAs焦平面探测器的技术进展与主要应用概况,并对该技术的发展前景进行了展望.
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| 关 键 词： | InGaAs 短波红外 焦平面 技术进展 |
| 收稿时间： | 2015-01-14 |
Developments and Perspectives of SWIR InGaAs Focal Plane Arrays |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | InGaAs SWIR Focal plane arrays Development process |
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