首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

基于选择性冗余的测试数据自动生成算法
引用本文:李军义, 李仁发, 孙家广. 基于选择性冗余的测试数据自动生成算法[J]. 计算机研究与发展, 2009, 46(8): 1371-1377.
作者姓名:李军义  李仁发  孙家广
作者单位:湖南大学计算机与通信学院,长沙,410082;清华大学软件学院,北京,100084
摘    要:基于选择性冗余思想,提出了一种测试数据自动生成算法.算法首先利用分支函数线性逼近和极小化方法,找出程序中所有可行路径,同时对部分可行路径自动生成适合的初始测试数据集;当利用分支函数线性逼近和极小化方法无法得到正确的测试数据时,基于使得测试数据集最小的原理和选择性冗余思想,针对未被初始测试数据集覆盖的谓词和子路径进行测试数据的增补.由于新算法结合谓词切片和DUC表达式,可以从源端判断子路径是否可行,因此能有效地降低不可行路径对算法性能的影响.算法分析和实验结果表明,该算法有效地减少了测试数据数量,提高了测试性能.

关 键 词:软件测试  测试数据自动生成  选择性冗余  线性逼近  分支函数极小化

An Automated Test Data Generation Algorithm Based on Selective Redundancy
Li Junyi, Li Renfa, Sun Jiaguang. An Automated Test Data Generation Algorithm Based on Selective Redundancy[J]. Journal of Computer Research and Development, 2009, 46(8): 1371-1377.
Authors:Li Junyi  Li Renfa  Sun Jiaguang
Affiliation:School of Computer and Communications;Hunan University;Changsha 410082;School of Software;Tsinghua University;Beijing 100084
Abstract:Automated test data generation has become a hot point in the research of software tests,and lots of useful models and methods have been proposed by researchers,but the performances of these existing schemes are not very satisfactory.So,it is very important to study how to design new automated methods with high performances for test data generation.Based on selective redundancy,a new automated test data generation algorithm is proposed,which firstly adopts methods such as linear approximation and minimizatio...
Keywords:software test  automated test data generation  selective redundancy  linear approximation  minimization of branch function  
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《计算机研究与发展》浏览原始摘要信息
点击此处可从《计算机研究与发展》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号