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| Cd1-xZnxTe合金的退火研究 | |
| 作者姓名： | 魏彦锋 方维政 刘从峰 杨建荣 何力 王福建 王兴军 黄大鸣 |
| 作者单位： | 1. 中国科学院上海技术物理研究所, 2. 复旦大学, |
| 摘 要： | 用红外透射谱和喇曼散射谱研究了退火对Cd1-xZnxTe晶片中Te沉淀的影响．研究结果表明,红外透射谱只对大尺寸的Te沉淀较为敏感,而喇曼散射谱却能够探测到样品中小尺寸的Te沉淀,两者互为补充．在Cd气氛下对晶片进行退火处理,选择合适的退火温度和退火时间,可以有效地消除晶片中大尺寸的Te沉淀,却难以消除晶片中小尺寸的微量Te沉淀． |
| 关 键 词： | CdZnTe 红外透射谱 喇曼散射 |
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