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| 用外推法测量微波低噪声部件的三次交调特性 | |
| 作者姓名： | 罗运生 |
| 作者单位： | 南京固体器件研究所 |
| 摘 要： | <正> 各种微波电路部件正日益广泛地应用于各种通讯设备中,三次交调特性的测量是对部件各种特性测量的重要环节。特别是对于各种低噪声前端,往往要测量它们小信号时的交调特性,由于仪表灵敏度的限制或由于背景噪声的影响,三次交调这个参数用常规方法往往测不准或根本无法测出。下面介绍一种用外推法测量微波低噪声部件三次交调特性的方法。 众所周知,理想的线性电路输入输出信号的频谱是不变的,也就是说信号通过这种部件并不会产生新的频率分量。但是由于实际电路总是或多或少的带有非线性,因此当有两个以上的载波频率输入到部件中后,其输出端除了输入频率分量之外,还会出现一系列的组合频 |
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