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| 半导体器件的加速试验方法 | |
| 作者姓名： | 山本敏男 |
| 摘 要： | 持续努力提高元器件及材料可靠性的结果，诞生了许多的高可靠性产品。由此减少了故障发生的机会，而具体作可靠性评价试验则需要很长时间。人们希望进行更短时间获得有效结果的评价试验，即加速试验。但是所谓加速试验并非单纯加强应力缩短时间即可，同时它也不是全能的试验。理解了这一 |
| 关 键 词： | 半导体器件 加速试验 可靠性评价 故障机理 |
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