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宽带隙ZnMgO的电学特性及其透明薄膜场效应晶体管
引用本文:吴惠桢,梁军,劳燕锋,余萍,徐天宁,邱东江. 宽带隙ZnMgO的电学特性及其透明薄膜场效应晶体管[J]. 半导体学报, 2006, 27(z1): 218-222
作者姓名:吴惠桢  梁军  劳燕锋  余萍  徐天宁  邱东江
作者单位:中国科学院上海微系统与信息技术研究所,信息功能材料国家重点实验室,上海,200050;浙江大学物理系,杭州,310027,中国科学院上海微系统与信息技术研究所,信息功能材料国家重点实验室,上海,200050,浙江大学物理系,杭州,310027
基金项目:上海市纳米科技计划项目 , 国家自然科学基金
摘    要:首次提出了用六方相晶体结构的宽带隙ZnMgO作为薄膜场效应晶体管(TFT)的沟道层,用立方相ZnMgO纳米晶体薄膜作为栅绝缘层,在实验中用透明的ITO导电玻璃作为衬底,通过连续沉积六方和立方相结构的纳米ZnMgO晶体薄膜,并通过光刻、电极工艺等,研制了透明的ZnO基TFT,TFT的电流开关比达到104,场效应迁移率为0.6cm2/(V·s).在偏压2.5MV/cm下漏电流为10-8A.

关 键 词:立方相和六方相ZnMgO  薄膜场效应晶体管  电学特性  宽带隙  ZnMgO  电学特性  透明薄膜  场效应晶体管  Transistors  Thin Film  Transparent  Fabrication  Bandgap  Wide  Properties  漏电流  偏压  场效应迁移率  开关比  电极工艺  光刻  晶体结构  连续沉积
文章编号:0253-4177(2006)S0-0218-05
修稿时间:2005-11-11

Electrical Properties of Wide Bandgap ZnMgO and Fabrication of Transparent Thin Film Transistors
Wu Huizhen,Liang Jun,Lao Yanfeng,Yu Ping,Xu Tianning,Qiu Dongjiang. Electrical Properties of Wide Bandgap ZnMgO and Fabrication of Transparent Thin Film Transistors[J]. Chinese Journal of Semiconductors, 2006, 27(z1): 218-222
Authors:Wu Huizhen  Liang Jun  Lao Yanfeng  Yu Ping  Xu Tianning  Qiu Dongjiang
Abstract:
Keywords:
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