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数字电路BST的测试矢量预装和响应提取
引用本文:陈希,陈光,谢永乐.数字电路BST的测试矢量预装和响应提取[J].电子测量与仪器学报,2004,18(Z2):735-738.
作者姓名:陈希  陈光  谢永乐
作者单位:电子科技大学自动化工程学院,成都,610054
摘    要:在IEEE1149.1标准中,边缘扫描描述语言(BSDL)描述了边缘扫描寄存器的长度和结构、指令的二进制代码及器件标志代码等.本文利用PCI1149.1控制器,根据所给定的任意一个边缘扫描器件的BSDL文件,构建了边缘扫描测试软件平台,重点描述了互连线故障测试过程中向边缘扫描单元(BSC)预装测试矢量序列和提取响应序列的方法.

关 键 词:数字电路测试  边缘扫描寄存器  边缘扫描描述语言  指令  测试
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