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光栅投影三维测量的原理及关键技术分析
引用本文:牛小兵,林玉池,赵美蓉,洪昕,程冬梅.光栅投影三维测量的原理及关键技术分析[J].仪器仪表学报,2001,22(Z1):203-205.
作者姓名:牛小兵  林玉池  赵美蓉  洪昕  程冬梅
作者单位:牛小兵(天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室天津 300072)       林玉池(天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室天津 300072)       赵美蓉(天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室天津 300072)       洪昕(天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室天津 300072)       程冬梅(天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室天津 300072)
基金项目:教育部科学技术研究重点项目(99140)资助。
摘    要:针对光栅投影三维测量技术的原理进行了综述,并就国内外的发展和应用状况,对测量中的关键技术,如相位测量、解相位、面形连续性、数据配准和拼接等进行了分析,说明了该测量方法的优越性。

关 键 词:光栅投影  三维面形测量  相位测量  配准拼接

Principles of 3-D Profilometry Measurement using Grating Projection and Key Technique Analysis
Abstract:
Keywords:
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