| ICP-OES法测定TA19钛合金中锡含量四条分析谱线的比较探究 |
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| 引用本文： | 罗枫,姜超,王刚伟,李婷.ICP-OES法测定TA19钛合金中锡含量四条分析谱线的比较探究[J].化学工程师,2019,33(9). |
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| 作者姓名： | 罗枫 姜超 王刚伟 李婷 |
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| 作者单位： | 宝鸡钛谷新材料检测技术中心有限公司,陕西 宝鸡,721013;宝鸡钛谷新材料检测技术中心有限公司,陕西 宝鸡,721013;宝鸡钛谷新材料检测技术中心有限公司,陕西 宝鸡,721013;宝鸡钛谷新材料检测技术中心有限公司,陕西 宝鸡,721013 |
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| 摘 要： | 针对ICP-OES法测定TA19钛合金中锡含量时的4条分析谱线Sn 242.950nm、Sn 242.170nm、Sn 235.485nm、Sn 189.925nm的灵敏度、受干扰状况、校准曲线线性、检出限、精密度和准确度进行了比较探究。结果表明,4条谱线的灵敏度均能满足测定要求,所受基体和合金成分的干扰均可消除,校准曲线线性相关系数均为0.9999,检出限均小于0.05%,测定结果的相对标准偏差在0.44%～0.81%之间,加标回收率在98.0%～98.7%之间。相比较Sn 189.925nm谱线的检出限和测定下限最优,精密度和准确度最好。
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| 关 键 词： | 电感耦合等离子体光谱法(ICP-OES) TA19钛合金 锡含量 分析谱线 |
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