| 电子装备试验中的电磁兼容问题分析 |
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| 引用本文： | 宋颖凤,尤梅,何健,任伯峰. 电子装备试验中的电磁兼容问题分析[J]. 无线电工程, 2015, 0(2): 51-55 |
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| 作者姓名： | 宋颖凤 尤梅 何健 任伯峰 |
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| 作者单位： | 1. 中国洛阳电子装备试验中心,河南 洛阳,471003
2. 二炮驻上海地区军代室,上海,201100 |
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| 摘 要： | 对近场区和远场区的电磁兼容特性进行了分析,得出结果如下:远场条件下电子装备间的电磁兼容问题可以不用考虑,而在近场条件下则不容忽视。针对电子装备试验中近场效应的存在可能导致的天线性能变化,进行了理论研究、数学仿真和试验验证,其结果表明,近场效应导致天线主瓣与第1副瓣之间的电平被显著抬高、天线增益损耗最大值不超过5 d B。对信号频谱图上叠加的多个不稳定信号进行了原因分析,通过切断多种传输途径杜绝了此类现象的发生。针对试验区域内所出现的某雷达大功率干扰信号,采取变换试验布局解决了问题。从方案设计和试验实施等2个阶段,对近场条件下电子装备试验可能出现的电磁兼容问题进行了归纳分析。
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| 关 键 词： | 电磁兼容 电子装备试验 近场 远场 |
Analysis on EMC Characteristics of Electronic Equipment Test in Short Range |
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| SONG Yingfeng,YOU Mei,HE Jian,REN Bofeng. Analysis on EMC Characteristics of Electronic Equipment Test in Short Range[J]. Radio Engineering of China, 2015, 0(2): 51-55 |
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| Authors: | SONG Yingfeng YOU Mei HE Jian REN Bofeng |
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| Affiliation: | SONG Ying-feng;YOU Mei;HE Jian;REN Bo-feng;Luoyang Electronic Equipment Test Center of China;Military Representative Office of PLA Second Artillery Forces Stationed in Shanghai Region; |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | EMC electronic equipment test short range long range |
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