X射线激励对SF6中直流针尖放电的影响 |
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引用本文: | 张强,张瀚驰,李成榕,马国明.X射线激励对SF6中直流针尖放电的影响[J].电工技术学报,2019,34(24). |
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作者姓名: | 张强 张瀚驰 李成榕 马国明 |
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作者单位: | 新能源电力系统国家重点实验室(华北电力大学) 北京 102206 |
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摘 要: | 国外已有研究表明,X射线激励能影响固体绝缘中微小气隙缺陷局部放电的特性。为了研究X射线激励对SF_6气体中针尖缺陷局部放电的影响,搭建了基于实体252kV GIS的局部放电试验平台,设计了GIS中常见的针尖放电模型,基于特高频方法测量了X射线激励下直流电压针尖缺陷的放电特性。对该文设计的长15mm、曲率半径为50mm的针尖缺陷,X射线能够分别降低正、负极性下的针尖放电起始电压约28.6%和15.6%;提高正、负极性放电脉冲重复率(正极性5.3~17.0倍,负极性80.4~166.7倍);降低正极性放电的特高频信号幅值约35.3%。X射线能够电离SF_6气体,在针尖缺陷附近产生光电离,为放电区域提供有效电子,从而降低放电统计时延,降低局部放电的起始电压,实现局部放电特征的外部调控。研究结果可以为直流GIS/GIL绝缘缺陷局部放电检测提供一种手段。
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关 键 词: | X射线 针尖缺陷 直流电压 局部放电 特高频 |
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