单模光纤的熔接

根据放电熔化的道理,研制了一种对单模光纤实用的低损耗连接方法。通过一个简单装置,利用光纤端头熔化时的表面张力引起的自对准作用,对于芯径为5.2、7和10微米的光纤,已得到平均连接损耗分别为0.4、0.2和0.1分贝。从实验和理论两方面分析了表面张力的作用。加热后和加热时的实验连接损耗都与理论的估算值一致。找到了低损耗连接的最佳加热温度大约是摄氏2000度,放电的功率8.5瓦。研究了连接损耗的原因。实际连接损耗的主要原因是:由于表面张力作用不足引起的连接后芯的轴线偏离以及芯相对于包层的偏心率。