| 基于J750测试系统的HS3282发送功能测试 |
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| 引用本文： | 魏志刚,徐居明,吴丽. 基于J750测试系统的HS3282发送功能测试[J]. 现代测量与实验室管理, 2010, 18(4): 14-16 |
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| 作者姓名： | 魏志刚 徐居明 吴丽 |
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| 作者单位： | 中航工业空空导弹研究院,洛阳,471009 |
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| 摘 要： | 主要阐述了使用美国Teradyne公司生产的J750大规模集成电路测试系统测试HS3282协议芯片发送功能的具体方法。详细论述了J750测试系统的主要特点,开发、调试HS3282发送功能的一般步骤,给出了具体的接口电路、测试程序,介绍了测试中可能出现的问题以及调试方法。
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| 关 键 词： | J750大规模集成电路测试系统 HS3282协议芯片 发送功能 429总线 |
HS3282 Sending Function Test Based on J750 Test System |
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| WEI Zhi-gang,XU Ju-ming,WU Li. HS3282 Sending Function Test Based on J750 Test System[J]. Advanced Measurement and Laboratory Management, 2010, 18(4): 14-16 |
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| Authors: | WEI Zhi-gang XU Ju-ming WU Li |
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