| 光谱法测定钛及钛合金中的微量杂质元素 |
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| 引用本文： | 胡文珍. 光谱法测定钛及钛合金中的微量杂质元素[J]. 稀有金属材料与工程, 2000, 29(1): 64-67 |
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| 作者姓名： | 胡文珍 |
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| 作者单位： | 西北有色金属研究院,宝鸡,721014 |
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| 摘 要： | 采用发射光谱分析技术,研究了钛及钛合金中Zr,Ru,Pd,Hf,Cu,Y,V,Mo,Nb,Al,Co,Ni,Ta,Bi,Sn,Cr,Mn的光谱测定方法。结果表明,选用碳粉作为缓冲剂,使用浅孔电极和大电流激发,一次摄谱可同时测定17个杂质元素。测定下限为3×10-4%～15×10-3%,相对偏差在15%以内。
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| 关 键 词： | 钛 钛合金 微量元素 光谱法 测定 |
Spectral Determination of Trace Impurity Elements in Ti and Its Alloys |
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| Hu Wenzhen. Spectral Determination of Trace Impurity Elements in Ti and Its Alloys[J]. Rare Metal Materials and Engineering, 2000, 29(1): 64-67 |
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| Authors: | Hu Wenzhen |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Ti and its alloy trace impurity spectrum method |
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