| 红外焦平面阵列盲元类型与判别 |
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| 引用本文： | 王巍,樊养余,司俊杰,傅跃农.红外焦平面阵列盲元类型与判别[J].红外与激光工程,2012(9):2261-2264. |
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| 作者姓名： | 王巍 樊养余 司俊杰 傅跃农 |
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| 作者单位： | 西北工业大学电子信息学院;中国空空导弹研究院 |
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| 基金项目： | 航空创新基金(2011D01406) |
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| 摘 要： | 红外焦平面阵列中盲元的存在降低了红外图像的质量以及红外系统的性能。在系统应用中可以使用算法对盲元进行补偿,但对于焦平面阵列研制而言,盲元的状态却是决定其是否合格的重要因素之一。通过对红外焦平面阵列工艺过程的分析,确定了盲元的4种主要类型、产生的工艺过程和形成的原因。研究了每种类型盲元的特征和表现形式,推导出像元输出电压与盲元种类之间的关系表达式。据此提出了一种简捷的盲元类型判别方法:通过观测盲元的输出波形,即可判定它们的类型。根据盲元类型,可定位于相应的工艺过程,在实现工艺和质量监控的同时,有助于降低红外焦平面阵列的盲元数量、提高制备技术和成品率,保障批产的稳定性。
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| 关 键 词： | 盲元 红外焦平面阵列 类型 判别 |
Types and determination of bad pixels in IRFPA |
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| Wang Wei,Fan Yangyu,Si Junjie,Fu Yuenong.Types and determination of bad pixels in IRFPA[J].Infrared and Laser Engineering,2012(9):2261-2264. |
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| Authors: | Wang Wei Fan Yangyu Si Junjie Fu Yuenong |
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| Affiliation: | 1.School of Electronics and Information,Northwestern Polytechnical University,Xi′an 710072,China; 2.China Airborne Missile Academy,Luoyang 471009,China) |
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