| 甲酰胺对P_2O_(5-)SiO_2系玻璃导电性能的影响 |
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| 引用本文： | 于宝刚.甲酰胺对P_2O_(5-)SiO_2系玻璃导电性能的影响[J].电子元件与材料,2008,27(6):79-81. |
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| 作者姓名： | 于宝刚 |
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| 作者单位： | 中国人民武装警察部队学院,科研部,河北,廊坊,065000 |
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| 摘 要： | 利用sol-gel法制备了P2O5-SiO2系质子导电玻璃。借助扫描电镜、电导率测试等手段,研究了甲酰胺对玻璃的结构和导电性能的影响。结果表明,甲酰胺能使玻璃形成微孔结构,提高质子电导率。在30℃,RH为50%的条件下,玻璃的电导率为10–3~10–2 S·cm–1。
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| 关 键 词： | 电子技术 P2O5-SiO2玻璃 甲酰胺 微孔结构 质子导电性 |
| 文章编号： | 1001-2028(2008)06-0079-03 |
| 修稿时间： | 2008年2月1日 |
Influence of formamide on conductivity of phosphosilicate glass |
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| YU Bao-gang.Influence of formamide on conductivity of phosphosilicate glass[J].Electronic Components & Materials,2008,27(6):79-81. |
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| Authors: | YU Bao-gang |
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| Abstract: | Protonic conducting P2O5-SiO2 glasses were prepared with sol-gel processing.The effects of formamide additive on the glass’s structure and protonic conductivity were investigated by SEM and conductivity test.Results show,formamide additive can bring about glass’s pore-structure,and increases proton conductivity.The glass conductivity can reach 10–3~10–2 S.cm–1 at 30 ℃,RH = 50%. |
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| Keywords: | electron technology phosphosilicate glass formamide pore-structure proton conductivity |
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