| 基路径覆盖测试用例自动生成方法研究 |
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| 引用本文： | 宋想,宋晓秋.基路径覆盖测试用例自动生成方法研究[J].计算机工程与设计,2013,34(8). |
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| 作者姓名： | 宋想 宋晓秋 |
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| 作者单位： | 中国航天科工集团第二研究院706所,北京,100854 |
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| 摘 要： | 传统基路径覆盖测试用例生成方法通过程序图求出圈复杂度,然后再得出程序的一组基路径,最后分别针对基路径组中的每条路径求出相应的测试用例,不仅繁琐,而且忽视了代码的语义相关性,导致存在路径不可达问题,也就无法生成对应的测试用例.提出了一种新的方法,利用遗传算法动态运行程序,逐渐逼近被测程序的真实逻辑圈复杂度,直接生成满足基路径覆盖测试用例的最小集合,不存在路径不可达问题.实验结果表明,该算法能够有效地生成满足基路径覆盖的测试用例.
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| 关 键 词： | 面向路径测试 路径覆盖 基路径覆盖 圈复杂度 测试用例自动生成 |
Test data generation automatically based on linear independent path covering |
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| SONG Xiang
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SONG Xiao-qiu.Test data generation automatically based on linear independent path covering[J].Computer Engineering and Design,2013,34(8). |
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| Authors: | SONG Xiang SONG Xiao-qiu |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | path-oriented testing path coverage basic path coverage ring complex test data generation automatically |
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