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| 分部曝光 回归曲线法 光谱分析精密仪表合金 | |
| 引用本文： | 孙锡孚.分部曝光 回归曲线法 光谱分析精密仪表合金[J].功能材料,1989(6). |
| 作者姓名： | 孙锡孚 |
| 作者单位： | 012基地 |
| 摘 要： | 一、前言(1930)——Schrbe(1931)分别提出光谱分析基本实验式:I=ac~b。由于内标比较法的引入,即 R=I_1/I_2=ac~b,采用3个以上的标准样品,以 logR—logC 或△S—logC 制作校正曲线,进行元素成份分析。钱振彭由基本实验式出发,令 b=1,推出不同曝光时间 |
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