一种具有纹波消除技术的10 bit SAR ADC

逐次逼近寄存器模数转换器(SAR ADC)在逐次逼近的过程中，电容的切换会使参考电压上出现参考纹波噪声，该噪声会影响比较器的判定，进而输出错误的比较结果。针对该问题，基于CMOS 0.5μm工艺，设计了一种具有纹波消除技术的10 bit SAR ADC。通过增加纹波至比较器输入端的额外路径，将参考纹波满摆幅输入至比较器中；同时设计了消除数模转换器(DAC)模块，对参考纹波进行采样和输入，通过反转纹波噪声的极性，消除参考纹波对ADC输出的影响。该设计将信噪比(SNR)提高到56.75 dB,将有效位数(ENOB)提升到9.14 bit,将积分非线性(INL)从-1～5 LSB降低到-0.2～0.3 LSB,将微分非线性(DNL)从-3～4 LSB降低到-0.5～0.5 LSB。