脑皮质突触结构透射电镜统计方法的探索

利用透射电镜(TEM)对神经突触结构进行统计学分析，虽然在近年来的神经科学研究中已被一些学者使用，但由于脑组织TEM样品较小，突触结构涉及亚细胞统计学，所以如何设计统计源，以保证其具有代表性与客观性是至关重要的问题，至今仍未建立成熟一致的标准。本文针对大鼠特定脑区，采用“三级定位法”,建立了一种突触结构的TEM统计分析方法，简单并具有客观性，被应用于多项神经生物学研究。该方法可为动物行为学、电生理学和神经分子生物学实验提供客观的亚细胞统计学佐证，可为相关研究提供参考方法。