用背对背裂变室测量固体径迹探测器探测裂变碎片的效率 |
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引用本文: | 陈晓峰,刘丰香,张兴年,李润良.用背对背裂变室测量固体径迹探测器探测裂变碎片的效率[J].核技术,1985(4). |
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作者姓名: | 陈晓峰 刘丰香 张兴年 李润良 |
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作者单位: | 西南核物理与化学研究所
(陈晓峰,刘丰香,张兴年),西南核物理与化学研究所(李润良) |
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摘 要: | 本工作采用自制的背对背裂变室,测量了聚酯(晨光化工厂)和聚碳酸酯(朝阳塑料厂)探测裂变碎片的效率。 1.原理 把裂变室放入热中子场中,测出上下裂变涂层裂变比R。然后,在上裂变室涂层上面压上一片探测器,再放入热中子场中。设下裂变室计数为N_(S(下)),探测器上观察到的径迹数为N_T,则探测器探测裂变碎片的效率ε为
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关 键 词: | 探测效率 背对背裂变室 |
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