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用背对背裂变室测量固体径迹探测器探测裂变碎片的效率
引用本文:陈晓峰,刘丰香,张兴年,李润良.用背对背裂变室测量固体径迹探测器探测裂变碎片的效率[J].核技术,1985(4).
作者姓名:陈晓峰  刘丰香  张兴年  李润良
作者单位:西南核物理与化学研究所 (陈晓峰,刘丰香,张兴年),西南核物理与化学研究所(李润良)
摘    要:本工作采用自制的背对背裂变室,测量了聚酯(晨光化工厂)和聚碳酸酯(朝阳塑料厂)探测裂变碎片的效率。 1.原理 把裂变室放入热中子场中,测出上下裂变涂层裂变比R。然后,在上裂变室涂层上面压上一片探测器,再放入热中子场中。设下裂变室计数为N_(S(下)),探测器上观察到的径迹数为N_T,则探测器探测裂变碎片的效率ε为

关 键 词:探测效率  背对背裂变室
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