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| 陈尔纲等取得场发射显微镜分辨率的突破 | |
| 引用本文： | <电子显微学报>编辑部.陈尔纲等取得场发射显微镜分辨率的突破[J].电子显微学报,1999,18(5). |
| 作者姓名： | <电子显微学报>编辑部 |
| 作者单位： | |
| 摘 要： | 云南大学物理系陈尔纲教授等在英国出版的《ＭｉｃｒｏｓｃｏｐｙａｎｄＡｎａｌｙｓｉｓ》１９９９年７月１３页上发表了论文“高分辨场发射显微镜观察到Ｗ针尖上吸附的Ｚｒ原子”，报道了他们在场发射显微镜分辨率上取得的突破。１９３７年Ｅ．Ｗ．Ｍüｌｌｅｒ发明了场发射显微镜（ｆｉｅｌｄｅｍｉｓｓｉｏｎｍｉｃｒｏｓｃｏｐｙ，ＦＥＭ），不久，Ｍüｌｌｅｒ转而发展场离子显微镜（ｆｉｅｌｄｉｏｎｍｉｃｒｏｓｃｏｐｙ，ＦＩＭ），并且很快使它的分辨率达到原子级的０．２ｎｍ水平。但是，直到最近，ＦＥＭ的分辨率仍停留在２ｎｍ… |
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