首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

基于粒子群算法的电路测试集优化
引用本文:侯艳丽,赵春晖,廖艳苹. 基于粒子群算法的电路测试集优化[J]. 哈尔滨工程大学学报, 2006, 27(Z1): 506-509
作者姓名:侯艳丽  赵春晖  廖艳苹
作者单位:哈尔滨工程大学,信息与通信工程学院,黑龙江,哈尔滨,150001
摘    要:研究电路测试集的优化,提出基于粒子群算法的电路测试集的静态压缩方法.粒子群向最优解方向演绎,利用适应度函数来评价各粒子的优劣.实验电路的验证结果表明,同时适用于时序电路和组合电路,与基于遗传算法的电路测试集优化相比,该算法能够更大限度地优化测试集,需要更少的存储空间.

关 键 词:测试集优化  粒子群算法  时序电路  组合电路
文章编号:1006-7043(2006)增-0506-04
修稿时间:2006-06-20

Test set optimization based on particle swarm optimization for circuits
HOU Yan-li,ZHAO Chun-hui,LIAO Yan-ping. Test set optimization based on particle swarm optimization for circuits[J]. Journal of Harbin Engineering University, 2006, 27(Z1): 506-509
Authors:HOU Yan-li  ZHAO Chun-hui  LIAO Yan-ping
Abstract:
Keywords:
本文献已被 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号