| 直流偏场下BST电性能计算机测试系统 |
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| 引用本文： | 孔宁,林晓牧,马韬,曹伯承,金学淼,姜胜林.直流偏场下BST电性能计算机测试系统[J].仪器仪表学报,2008,29(1):89-93. |
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| 作者姓名： | 孔宁 林晓牧 马韬 曹伯承 金学淼 姜胜林 |
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| 作者单位： | 华中科技大学电子科学与技术系,武汉,430074 |
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| 基金项目： | 教育部跨世纪优秀人才培养计划
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湖北省杰出青年科学基金 |
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| 摘 要： | 针对BaxSr1-xTiO3(BST,钛酸锶钡)材料在直流偏场下的电性能的变化,设计出一种直流偏场下BST电性能参数计算机测试系统.该系统测试结果通过串口输入计算机,通过LabVIEW编写的虚拟仪器程序实时处理与显示材料在不同偏压下的介电常数-温度曲线与损耗曲线,从中引申出了一种外加直流偏场下热释电系数的测试方法.利用该系统在25～70 ℃,200 V与400 V偏压下,对BST样片进行了测量,得到了相关曲线与数据,其中400 V下材料相对介电常数峰值与热释电系数峰值在42.2 ℃达到6 795.51与1.17×10-7 C/cm2·K,测量结果对于研究BST材料的红外探测性能具有现实意义.
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| 关 键 词： | BST 直流偏场 计算机测试系统 LabVIEW 直流偏场 电性能 计算机测试系统 field DC bias electrical properties test system 意义 探测性能 红外 研究 测量结果 峰值 相对介电常数 数据 相关曲线 样片 利用 测试方法 热释电系数 |
| 收稿时间： | 2006-11 |
| 修稿时间： | 2006年11月1日 |
Computer test system of BST electrical properties under DC bias field |
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| Kong Ning,Lin Xiaomu,Ma Tao,Cao Bocheng,Jin Xuemiao,Jiang Shenglin.Computer test system of BST electrical properties under DC bias field[J].Chinese Journal of Scientific Instrument,2008,29(1):89-93. |
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| Authors: | Kong Ning Lin Xiaomu Ma Tao Cao Bocheng Jin Xuemiao Jiang Shenglin |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | BST DC bias field computer test system LabVIEW |
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