| 基于增维原理的三维自准直角度测量 |
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| 引用本文： | 张涛. 基于增维原理的三维自准直角度测量[J]. 计量与测试技术, 2007, 34(6): 37-40 |
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| 作者姓名： | 张涛 |
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| 作者单位： | 北京理工大学,北京,100083 |
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| 摘 要： | 本文分别介绍了光学自准直原理、CCD的工作原理、以及实际使用的光学系统中CCD增维测量原理.并在此基础上介绍如何设计分化板的刻线来实现扩大测角范围及用一维CCD来测量二维角度,提高了CCD的测量范围和量程,相对于面状CCD大大提高了测量速度,减少了成本.
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| 关 键 词： | 自准直角度测量 增维原理 二值化 测量原理 三维 光学自准直 角度测量 Dimension Principle Based 成本 测量速度 量程 测量范围 一维 测角 刻线 设计 光学系统 使用 工作原理 |
| 收稿时间： | 2007-03-06 |
| 修稿时间： | 2007-03-06 |
Self-collimation and Angle Measurement Based on Principle of Dimension Ampliation |
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