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| CNAL的一次耐漏电起痕比对试验 | |
| 引用本文： | 范国新,王忠义. CNAL的一次耐漏电起痕比对试验[J]. 安全与电磁兼容, 2004, 0(4): 22-23 |
| 作者姓名： | 范国新 王忠义 |
| 作者单位： | 中国电子技术标准化研究所;中国电子技术标准化研究所 |
| 摘 要： | 1.引言 试验结果与真值(或约定值)之间的一致性是采用重复性和复现性来表征的,为合理的评定重复性和复现性,常采用比对试验.比对试验的目的是验证参加比对试验的各检测实验室的测试结果的再现性和可比性,检查评价各检测机构的综合检测技术能力和水平. |
| 关 键 词： | 中国实验室国家认可委员会 漏电起痕 比对试验 电极 NH4Cl溶液 表面处理 无水乙醇 |
A Comparative Test for Tracking of CNAL |
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