背散射x射线缺陷检验法初探

一、前言适用于x射线透照试验的方法,在现场多是将x射线装置和检出器(x射线盒装胶片)配置于试验体的两侧。背散射x射线检验法,是将微细x射线束照射到试验体上,根据试验体后方产生的背散射x射线的强弱,来检验出存在于试验体上射线侧的近表面缺陷。