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硅基密封气密性及结构强度研究
引用本文:吉勇,高娜燕,燕英强,明雪飞,陈波,丁荣峥.硅基密封气密性及结构强度研究[J].电子与封装,2014(8).
作者姓名:吉勇  高娜燕  燕英强  明雪飞  陈波  丁荣峥
作者单位:中国电子科技集团公司第58研究所;
摘    要:探讨了硅基气密性封装的可行性,将电镀镍-金镀层的柯伐盖板、密封区金属化的硅基板用金锡焊料片通过熔封形成密封。硅是一种脆性材料,在硅基气密性密封结构中,需要研究气密性封装腔体大小对结构强度的影响(规律),以及可承受的压力。试验结果表明,腔体小于11 mm×27 mm时(腔体高度不限),350μm厚度的硅基板可直接与柯伐盖板密封,密封结构中的硅基板不会碎裂且可承受至少0.1 MPa的压力。

关 键 词:硅基封装  气密性  结构强度
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