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Bi系铜氧化物射频介电性质的研究
引用本文:冯双久,张显良,倪江利.Bi系铜氧化物射频介电性质的研究[J].材料导报,2010,24(18).
作者姓名:冯双久  张显良  倪江利
作者单位:安徽大学物理与材料科学学院信息材料与器件重点实验室,合肥,230039;安徽大学物理与材料科学学院信息材料与器件重点实验室,合肥,230039;安徽大学物理与材料科学学院信息材料与器件重点实验室,合肥,230039
基金项目:国家自然科学基金,安徽大学人才队伍建设经费项目资助 
摘    要:测量了不同离子掺杂Bi2Sr2CaCu2Oy多晶样品的射频介电常数,发现样品的介电常数存在明显差别,分析认为这是由于离子掺杂改变了材料中的载流子浓度,导致材料的空间电荷极化差异所引起的.基于这种机制,成功解释了不掺杂样品在1700MHz附近的弛豫现象和不同样品损耗性质的差异.

关 键 词:电工材料  介电性质  Bi系铜氧化物  空间电荷极化  损耗角正切

Radio Frequency Dielectric Properties of Bi Based Cuprates
FENG Shuangjiu,ZHANG Xianliang,NI Jiangli.Radio Frequency Dielectric Properties of Bi Based Cuprates[J].Materials Review,2010,24(18).
Authors:FENG Shuangjiu  ZHANG Xianliang  NI Jiangli
Abstract:
Keywords:
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