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| 银浆烧结小功率晶体管的Vces失效模式及工艺改进途径 | |
| 引用本文： | 王赤军.银浆烧结小功率晶体管的Vces失效模式及工艺改进途径[J].半导体技术,1984(1). |
| 作者姓名： | 王赤军 |
| 作者单位： | 重庆无线电二厂 |
| 摘 要： | 一、问题的提出在1981年度3DG102B全国质量评比的高温贮存试验中,有35家厂家参加,投试验样品700支,失效87支,占投试数的12.4%.多数厂家的产品是由于V_(ces)的变化超差而失效,约占本项试验失效数的55.21%(48支).由此可见,产品在这方面存在的问题是比较严重的.从这些失效产品来看,多发生在使用银浆烧结工艺的厂家.而使用金锑烧结工艺方法的产品,V_(ces)比较稳定,也可以做得比较小.所以,有人认为,造成V_(ces)不稳定以致失效的主要原因, |
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