介绍一种RAM电路故障的简易测试方法

本文介绍一种用于检测微处理器系统中随机存取存储器(RAM)电路故障的方法。它所采用的测试程序可以直接通过用户本身的中央控制单元(MPU)来对系统的RAM电路进行检测,并在一个简单的发光二极管显示电路上显示有关的故障信息。所以这种方法灵活方便,适用范围较广。本文所介绍的方法已在北京第一机床厂铣床研究所研制的B_1K—216微处理器数控系统的调试过程中得到应用。