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| 磁光旋转谱和磁圆二向色性谱测量 | |
| 引用本文： | 刘公强,韩效溪,宋慧德,刘湘林.磁光旋转谱和磁圆二向色性谱测量[J].仪器仪表学报,1987(4). |
| 作者姓名： | 刘公强 韩效溪 宋慧德 刘湘林 |
| 作者单位： | 上海交通大学 (刘公强，韩效溪，宋慧德)，中国科学院上海冶金研究所(刘湘林) |
| 摘 要： | 本文描述了磁光旋转谱和磁圆二向色性谱测试装置的基本特性,用该装置测量了(BiTm)_3(FeGa)_5O_(12)薄膜磁光旋转θ的实部θ′和虚部θ″与光波长λ的关系,不同λ情况下YIG单晶的θ′与磁场强度H 的关系。讨论了测试结果,分析了测量误差。指出用磁光诃制倍频法测量磁光旋转谱和磁圆二向色性谱基本上不受激光源幅度变化和光路中其他元器件不稳定因素的影响,在λ=0.65～2.7μm 范围内,测量θ′的重复精度可达±0.005°。 |
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