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| 182Taγ射线发射概率的测定 | |
| 引用本文： | 张小林,李元景,凡金龙,刘杰,李琦,常永福.182Taγ射线发射概率的测定[J].核电子学与探测技术,2007,27(6):1135-1138,1121. |
| 作者姓名： | 张小林 李元景 凡金龙 刘杰 李琦 常永福 |
| 作者单位： | 1. 清华大学工程物理系,北京,100084;西北核技术研究所,西安,710024 2. 清华大学工程物理系,北京,100084 3. 西北核技术研究所,西安,710024 |
| 摘 要： | 182Ta发射低能和高能两组γ射线,半衰期适中,是HPGe探测器效率刻度的合适标准源之一.本工作通过反应堆活化得到了182Ta放射源,制备了VYNS薄膜源.活度由4πβ 4πγ计数相加装置绝对测量,γ射线的发射率由已刻度效率曲线的HPGe探测器测量,从而得到了γ射线绝对发射概率,不确定度为0.6～1.5%. |
| 关 键 词： | 182Ta γ射线发射概率 HPGe探测器 |
| 文章编号： | 0258-0934（2007）06-1135-04 |
| 收稿时间： | 2006-05-16 |
| 修稿时间： | 2006年5月16日 |
Measurement of the Gamma-ray Emission Probabilities of 182Ta |
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| ZHANG Xiao-lin,LI Yuan-jing,FAN Jin-long,LIU Jie,LI Qi,CHANG Yong-fu.Measurement of the Gamma-ray Emission Probabilities of 182Ta[J].Nuclear Electronics & Detection Technology,2007,27(6):1135-1138,1121. | |
| Authors: | ZHANG Xiao-lin LI Yuan-jing FAN Jin-long LIU Jie LI Qi CHANG Yong-fu |
| Abstract: | |
| Keywords: | ^182Ta Gamma-ray emission probability HPGe detector |
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