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C8051F005在高速误码测试系统中的运用
引用本文:李卫国,黄秋元,陈伟.C8051F005在高速误码测试系统中的运用[J].单片机与嵌入式系统应用,2007(8):48-52.
作者姓名:李卫国  黄秋元  陈伟
作者单位:武汉理工大学
摘    要:根据VSC8228芯片特点,利用C8051F005单片机提出一种价廉的高速误码测试系统的设计方案,误码仪可测试的速度高达4.25 Gbps;着重讲述误码测试系统的软硬件设计,特别是C8051F005单片机在该系统中的SPI通信及与PC上位机的串口通信.

关 键 词:C8051F005  高速  SPCOMM串行通信  SPI
修稿时间:2007-04-06

Application of C8051F005 in High-speed Bit Error Test System
Li Weiguo,Huang Qiuyuan,Chen Wei.Application of C8051F005 in High-speed Bit Error Test System[J].Microcontrollers & Embedded Systems,2007(8):48-52.
Authors:Li Weiguo  Huang Qiuyuan  Chen Wei
Abstract:
Keywords:
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