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电子束重复增量扫描生成三维结构的研究
引用本文:郝慧娟,张玉林,卢文娟,魏强.电子束重复增量扫描生成三维结构的研究[J].半导体学报,2006,27(7):1326-1330.
作者姓名:郝慧娟  张玉林  卢文娟  魏强
作者单位:山东大学控制学院 电子束研究所,济南 250061;山东大学控制学院 电子束研究所,济南 250061;山东大学控制学院 电子束研究所,济南 250061;山东大学控制学院 电子束研究所,济南 250061
基金项目:教育部科学技术研究项目 , 教育部科学技术研究项目 , 山东省科技攻关项目
摘    要:针对三维曝光图形的结构特点,结合自行设计的图形发生器,提出了电子束重复增量扫描方式及曝光剂量与刻蚀深度关系和灵敏度的计算方法.根据计算得到的剂量关系,按照重复增量扫描方式,在SDS-3电子束曝光机上进行了曝光实验,显影后得到了轮廓清晰的梯锥和圆锥的三维结构.因此,重复增量扫描方式可以用于三维结构的加工,并且关于曝光剂量与刻蚀深度关系和灵敏度的计算可以为其提供符合实际曝光的参数.

关 键 词:DSP  图形发生器  电子束光刻  三维加工  灵敏度  电子束曝光机  增量  扫描方式  三维结构  研究  Scanning  Increment  Overlapped  Electron  Beam  Lithography  参数  加工  圆锥  轮廓  实验  深度关系  曝光剂量  计算方法  灵敏度  刻蚀  图形发生器
文章编号:0253-4177(2006)07-1326-05
收稿时间:11 27 2005 12:00AM
修稿时间:02 24 2006 12:00AM

Three-Dimensional Fabrication by Electron Beam Lithography Using Overlapped Increment Scanning
Hao Huijuan,Zhang Yulin,Lu Wenjuan and Wei Qiang.Three-Dimensional Fabrication by Electron Beam Lithography Using Overlapped Increment Scanning[J].Chinese Journal of Semiconductors,2006,27(7):1326-1330.
Authors:Hao Huijuan  Zhang Yulin  Lu Wenjuan and Wei Qiang
Abstract:Overlapped increment scanning in electron beam lithography and the calculation methods for the exposure doses and the etching depth and sensitivity are presented for the structural characteristics of three-dimensional patterns as well as the self-devised pattern generator of an e-beam lithography system.Based on the calculated dose relations according to the scanning mode,the exposure experiments are conducted in an SDS-3 e-beam lithography system.After the development,the distinct three-dimensional structures of the conic of trapezoid 1 and the conic are obtained.Overlapped increment scanning therefore can be used for three-dimensional fabrication,and the calculation of the relations between exposure doses and the etching depth and sensitivity can provide the practical parameters for it.
Keywords:DSP  pattern generator  e-beam lithography  three-dimensional lithography  sensitivity
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