| 基于光线追踪法的高精度CO2测量系统的研究 |
| |
| 引用本文： | 伍雷,张学典,王业生,于西龙,李荆轩,颜泽帆. 基于光线追踪法的高精度CO2测量系统的研究[J]. 光学仪器, 2015, 37(5): 377-380 |
| |
| 作者姓名： | 伍雷 张学典 王业生 于西龙 李荆轩 颜泽帆 |
| |
| 作者单位： | 上海理工大学光电信息与计算机工程学院, 上海 200093,上海理工大学光电信息与计算机工程学院, 上海 200093,上海理工大学光电信息与计算机工程学院, 上海 200093,上海理工大学光电信息与计算机工程学院, 上海 200093,上海理工大学光电信息与计算机工程学院, 上海 200093,上海理工大学光电信息与计算机工程学院, 上海 200093 |
| |
| 基金项目： | 国家科技专项(2014ZX07104);国家重大仪器专项(2013YQ03065104);国家科技支撑项目(2012BAI23B00) |
| |
| 摘 要： | 为了提高测量精度,对光线的有效利用率和最佳光程的选择进行了推导和优化。首先应用光线追踪法模拟CO2气室光路结构,计算光线的有效利用率;其次通过分析红外探测器接收到的光线,计算光程长对测量结果贡献率的影响,得出4.26μm波长下CO2的最佳光程为31mm。据此设计了CO2体积分数测量系统,并对20×10-6~1 500×10-6范围内的标准气体进行了测量。实验结果表明,该系统的测量精度可达到50×10-6。
|
| 关 键 词： | 光学测量 CO2体积分数测量 光线追踪法 最佳光程长 |
| 收稿时间： | 2015-02-02 |
A CO2 measurement system with high accuracy based on ray tracing approach |
| |
| WU Lei,ZHANG Xuedian,WANG Yesheng,YU Xilong,LI Jingxuan and YAN Zefan. A CO2 measurement system with high accuracy based on ray tracing approach[J]. Optical Instruments, 2015, 37(5): 377-380 |
| |
| Authors: | WU Lei ZHANG Xuedian WANG Yesheng YU Xilong LI Jingxuan YAN Zefan |
| |
| Affiliation: | School of Optical-Electrical and Computer Engineering, University of Shanghai for Science and Technology, Shanghai 200093, China,School of Optical-Electrical and Computer Engineering, University of Shanghai for Science and Technology, Shanghai 200093, China,School of Optical-Electrical and Computer Engineering, University of Shanghai for Science and Technology, Shanghai 200093, China,School of Optical-Electrical and Computer Engineering, University of Shanghai for Science and Technology, Shanghai 200093, China,School of Optical-Electrical and Computer Engineering, University of Shanghai for Science and Technology, Shanghai 200093, China and School of Optical-Electrical and Computer Engineering, University of Shanghai for Science and Technology, Shanghai 200093, China |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | optical measurement measurement of CO2 ray tracing approach best optical path length |
| 本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录！ |
| 点击此处可从《光学仪器》浏览原始摘要信息 |
|
点击此处可从《光学仪器》下载全文 |
|
