首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

少胶VPI绝缘结构的老化试验
引用本文:施小豹. 少胶VPI绝缘结构的老化试验[J]. 电机技术, 2017, 0(4). DOI: 10.3969/j.issn.1006-2807.2017.04.011
作者姓名:施小豹
作者单位:安徽皖南电机股份有限公司 242500
摘    要:通过对不同的无溶剂绝缘树脂、少胶云母带和绝缘工艺等进行对比和研究,筛选出了合适的绝缘材料、绝缘结构和绝缘工艺。并通过热老化试验,确定了阿仑尼乌斯图,求出了该绝缘结构的温度指数。

关 键 词:绝缘树脂  H级少胶绝缘系统  少胶云母带  热老化  温度指数

Aging Test on Few Glue VPI Insulation System
SHI Xiaobao. Aging Test on Few Glue VPI Insulation System[J]. Electrical Machinery Technology, 2017, 0(4). DOI: 10.3969/j.issn.1006-2807.2017.04.011
Authors:SHI Xiaobao
Abstract:
Keywords:
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号