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| 多因素干扰作用下微控器抗扰特性的正交试验研究 | |
| 引用本文： | 蔡建国,向怡,瞿志海,蒋全兴.多因素干扰作用下微控器抗扰特性的正交试验研究[J].电工技术,2009(1):20-22. |
| 作者姓名： | 蔡建国 向怡 瞿志海 蒋全兴 |
| 作者单位： | 1. 武汉职业技术学院机电学院 2. 湖北省家电维修行业管理办公室 |
| 基金项目： | 湖北省教育厅科研项目 |
| 摘 要： | 以正交试验的理论为基础，通过对被干扰设备进行试验测量获得大量的数据，然后用正交试验法分析快速瞬变脉冲群对微控器的干扰特性。该方法开辟了电磁兼容性研究领域的一个新途径。 |
| 关 键 词： | 多因素 微控器 抗扰特性 正交试验 |
Orthogonal Test Research of Characteristic of MCU Disturbance Rejection under Multifactor Interferences |
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