石墨晶体预衍射X射线荧光分析中的基体影响

X射线荧光分析是一种重要的仪器分析方法，在元素分析方面有着非常广泛的应用。但在后处理工艺分析中，X射线荧光分析应用较少，主要原因是样品本身的放射性对测量产生较大干扰。本实验室根据文献报道以及X射线衍射基本原理，白行设计组装完成了一套石墨晶体预衍射EDXRF分析装置。在实际的测量中，由于基体组成复杂，因此，本工作研究了在1AW中的主要基体元素对U测定的影响。