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双端口RAM在动态应变仪中的应用
引用本文:尤文斌,裴东兴,祖静,谢浔.双端口RAM在动态应变仪中的应用[J].测试技术学报,2004,18(Z4):203-206.
作者姓名:尤文斌  裴东兴  祖静  谢浔
作者单位:华北工学院,仪器科学与动态测试教育部重点实验室,太原,030051
摘    要:本文介绍了双端口存储器;分析了双端口RAM在动态应变仪中的应用.通过双端口的使用解决了数据采集的连续问题,实现了数据采集的低速与计算机的快速之间很好的匹配.

关 键 词:双端口存储器  动态应变仪  速度匹配  数据采集
修稿时间:2004年4月12日

Dual Port RAM Using in Dynamic Strain Gauge
You Wenbin,Pei Dongxing,Jing Zu,Xie Xun.Dual Port RAM Using in Dynamic Strain Gauge[J].Journal of Test and Measurement Techol,2004,18(Z4):203-206.
Authors:You Wenbin  Pei Dongxing  Jing Zu  Xie Xun
Abstract:
Keywords:
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