首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

双端口RAM在动态应变仪中的应用
引用本文:尤文斌,裴东兴,祖静,谢浔. 双端口RAM在动态应变仪中的应用[J]. 测试技术学报, 2004, 18(Z4): 203-206
作者姓名:尤文斌  裴东兴  祖静  谢浔
作者单位:华北工学院,仪器科学与动态测试教育部重点实验室,太原,030051
摘    要:本文介绍了双端口存储器;分析了双端口RAM在动态应变仪中的应用.通过双端口的使用解决了数据采集的连续问题,实现了数据采集的低速与计算机的快速之间很好的匹配.

关 键 词:双端口存储器  动态应变仪  速度匹配  数据采集
修稿时间:2004-04-12

Dual Port RAM Using in Dynamic Strain Gauge
You Wenbin,Pei Dongxing,Jing Zu,Xie Xun. Dual Port RAM Using in Dynamic Strain Gauge[J]. Journal of Test and Measurement Techol, 2004, 18(Z4): 203-206
Authors:You Wenbin  Pei Dongxing  Jing Zu  Xie Xun
Abstract:
Keywords:
本文献已被 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号