扫描电子热辐射测量技术(I):理论探讨 |
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引用本文: | 印建平,吴志明,高伟建.扫描电子热辐射测量技术(I):理论探讨[J].电子显微学报,1993(2). |
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作者姓名: | 印建平 吴志明 高伟建 |
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作者单位: | 苏州大学分析测试中心 苏州215006 |
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摘 要: | 本文提出的扫描电子热辐射测量(Scanning Electron Thermal Radiometry简称SETR)技术是基于:样品吸收调制电子束的能量部分转化为热能,在样品内部形成同频率的热波,引起样品温度场的周期性涨落,导致样品表面热辐射信号的变化,探测此信号而获得与样品热学性质及内部热波传播路径上的结构特征。扫描电子热辐射测量(SETR)技术综合了光热辐射测量(PTR)和扫描电子热声显微(SETAM)技术两者的优点,主要表现在激励源采用了电子束,易于聚焦,强度和调制频率易于控制,调节范围宽;采用辐射信号探测方式,有不接触、实时、可测样品范围广等特点。此外还能与SEM的现有有功能相结合进行综合成象和谱分析,以获得试样更全面的信息。
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