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激光分子束外延法制备AlN/Si异质结的电学性质
引用本文:方应龙,贾彩虹,陈秀文,张伟风.激光分子束外延法制备AlN/Si异质结的电学性质[J].压电与声光,2016,38(6):1043-1046.
作者姓名:方应龙  贾彩虹  陈秀文  张伟风
作者单位:(河南大学 物理与电子学院 光伏材料省重点实验室,河南 开封 475004)
基金项目:河南省高校科技创新人才支持计划基金资助项目(Grant no. 2012 IRTSTHN004);中国国家自然科学基金资助项目(51202057,61350012)
摘    要:采用激光分子束外延法在Si(111)衬底上制备出沿c轴取向的AlN薄膜,在此基础上制备了Au/AlN/Si 金属 绝缘体 半导体(MIS)结构。研究了结构的电流传输机制、AlN/Si界面处的界面态密度值及分布情况。结果表明:AlN/Si异质结具有很好的整流特性,电流传输符合空间电荷限制传输机制,理想因子为2.88;结构的界面态密度约为1.1×1012 eV-1·cm-2,主要分布在距离Si衬底价带顶0.26 eV附近,由生长过程中引入的O杂质、N空位/N替代和Si原子代替N原子形成的Al-Si键组成。

关 键 词:AlN/Si(111)  异质结  激光分子束外延  空间电荷限制电流  电导法  界面态密度

Electrical Properties of AlN/Si Heterostructure Prepared by Laser MBE
FANG Yinglong,JIA Caihong,CHEN Xiuwen and ZHANG Weifeng.Electrical Properties of AlN/Si Heterostructure Prepared by Laser MBE[J].Piezoelectrics & Acoustooptics,2016,38(6):1043-1046.
Authors:FANG Yinglong  JIA Caihong  CHEN Xiuwen and ZHANG Weifeng
Affiliation:(Key Lab. of Photovoltaic Materials of Henan Province and School of Physics & Electronics,Henan University,Kaifeng 475004 China)
Abstract:
Keywords:AlN/Si(111)  heterojunctions  laser molecular beam epitaxy  space charge limited current (SCLC)  conductance method  interface state density
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