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表面分析技术讲座(二)
作者姓名:李望
作者单位:核工业理化工程研究院!邮编300180
摘    要:3 俄歇电子能谱(AES) (Auger electron Spectroscopy) 3.1 俄歇效应和俄歇电子的发现 俄歇效应是法国物理学家Pierre Auger于1925年发现的。俄歇的实验是用x射线照射威尔逊云雾室中的惰性气体(如氩、氪、氙等),并拍摄电子径迹。所用x射线的能量在20~60keV之间变动。从摄得的照片可以看到,在x射线的路径上看到许多源出于同一点的“叉状”双径迹或多径迹现象。对于绝大多数细长的光电子径迹,都伴随着短而粗的一种电子径迹。改变x射线的能量发现,前者随x射线的能量增加而增长,而后者则与x射线的能量无关,它保持恒定长度的径迹。此外,又

关 键 词:分析化学 表面分析
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