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Ge(Li)探测器级锗单晶的生长与评价
作者姓名:马绍芳
作者单位:北京有色金属研究总院
摘    要:对锗单晶的锂可漂性和陷阱效应进行了研究。结果表明,锂漂移迁移率和有效载流子寿命是评价单晶的主要参数。

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