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掺Cr-Te半绝缘(SI)GaAs 的某种特性
引用本文:
马碧春,王永鸿,王惠林.掺Cr-Te半绝缘(SI)GaAs 的某种特性[J].稀有金属,1982(6).
作者姓名:
马碧春
王永鸿
王惠林
作者单位:
冶金部有色金属研究总院,冶金部有色金属研究总院,冶金部有色金属研究总院
摘 要:
一引言离子注入工艺具有成本低,制作的器件参数重复性好,均匀性好等优点,已被应用于器件制作工艺中,并成为制备高频高速集成电路的基础。国外,GaAs FET生产中
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