美国半导体器件的失效率及其计算方法

本文用美国哈里斯半导体器件公司的实例数据介绍了如何采用新概念计算半导体失效率的方法，并收集了近年来发表的部分半导体器件失效率的数据（其中早期失效率数据是利用６０％置信度计算出来的，长期失效率是利用激活能和６０％置信度计算出来的），同时还分析了自１９９５年以来美国半导体失效率的变化趋势或可靠性改进的情况，以供参考。