一种新颖的致密膜针孔检测方法 |
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引用本文: | 孙宪明,金怀诚.一种新颖的致密膜针孔检测方法[J].膜科学与技术,1989,9(3):31-36. |
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作者姓名: | 孙宪明 金怀诚 |
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作者单位: | 中国科学院化学研究所 北京
(孙宪明),中国科学技术大学物理系 合肥
(金怀诚),中国科学院化学研究所 北京(徐懋) |
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摘 要: | 本文报导了一种新颖的致密膜针孔检测方法。其基本原理是根据致密膜上存在针孔时,所引起的膜材料的电性能变化。对一系列经过仔细制备,具有不同孔径针孔的高分子致密膜样品进行了测定。研究了实验条件对此方法检测有效性的影响。实验结果表明实验数据与根据针孔孔径测定结果的计算值很好的相符。考察了此方法用于动态检测的可行性。结果证明,电导测量方法提供了一种简便、快速、灵敏,直观的致密膜针孔检测方法。
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关 键 词: | 致密膜 针孔 电导测量法 |
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