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| SOC测试系统将成为主流IC测试设备 | |
| 引用本文： | 崔德勋.SOC测试系统将成为主流IC测试设备[J].电子产品世界,2000(3). |
| 作者姓名： | 崔德勋 |
| 作者单位： | |
| 摘 要： | SOC(系统级芯片)测试对IC ATE(集成电路自动测试设备)制造商提出了挑战,同时也提供了新的发展机遇.目前,各种系统级芯片不断面世,包括数字蜂窝电话芯片、PC图形芯片、电缆调制解调器芯片、千兆以太网交换器芯片、网络控制器芯片以及各种多媒体器件.这预示了SOC测试将是未来几年ATE市场中的一个新增长点.SOC对测试设备要求非常高,它要求设备能测试芯片上的数字逻辑电路、模拟电路和存储器.低成本、多功能SOC测试设备对集成电路制造商有更大的吸引力,因为这种设备的测试能力能替代多台单功能IC ATE. |
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