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| 存储器闪存领域展开低成本竞争通过集成ECC提高可靠性成为潮流 | |
| 作者姓名： | 大胁幸人 |
| 作者单位： | 东芝半导体公司SoC研究开发中心 |
| 摘 要： | 在成本竞争激烈的闪存领域，所发布的主要内容为使用多值技术、提高了集成度的数据存储用存储器。在DRAM和SRAM领域，发布的内容主要集中在高速化方面。在所有存储器中，片式ECC电路成为了此次会议的亮点。存储器的种类不同，使用ECC电路的目的也不同，ECC电路主要被应用于提高可靠性及数据的传输速率、降低待机时的消耗电流等方面。 |
| 关 键 词： | 高可靠性 成本竞争 存储器 ECC 集成度 闪存 潮流 数据存储 SRAM DRAM |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ | |